JTAGMaster边界扫描测试仪



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    JTAGMaster边界扫描测试是可编程逻辑器件(pld)配置和诊断的完全集成解决方案。

    一种边界扫描测试仪,可任意观察单个管脚,从而确定其功能。此信息可以保存在可自定义的测试过程中,该过程还可以包括图片和数据表。EXTEST模式也可用于手动更改管脚的状态并跟踪对链中其他设备的影响。扫描检查是一个多许可证软件,可以在多个站点上运行边界扫描检查。

    一种编程接口,用于处理工业标准JAM STAPL文件(标准测试和编程语言)和SVF文件(串行矢量格式),以便向设备发送编程指令和测试功能。ABI使用JTAG标准(联合测试行动组,与IEEE1149.1兼容),确保所有兼容IC之间的兼容性。

    JTAGMaster还能够使用外部适配器对EEPROM器件进行编程。 支持标准brinary文件,也可以在设备缓冲区窗口中对其进行修改。 库中存在各种EEPROM器件,用户可以轻松对其进行修改。

    JTAGMaster支持以下协议:串行外设接口(SPI);集成电路间(I²C);微线(μwire)。

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