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美国旧金山城市轨道交通销售案例

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英国ABI电路板反求系统应用案例

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HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告

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某厂计量处失效元件-CD54HC14F3A测试报告

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英国ABI-AT256测试案例-ST16C554故障器件测试报告

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英国ABI-AT256测试案例-ST16C554良好器件测试报告

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测试时间:2011-06-30 测试结果:通过测试元件型号:16C554测试设备:英国ABI-AT25616c544测试报告结果图片st16c544管脚图AT256 - Chip ReportTest SummaryDevice:16C554-123Package:68 pin PLCCScan Profile:CopyofNormalDigitalOverall Result:SUCCESSOp…… [了解更多]

某研究中心测试案例-CY7C1021CV33故障器件测试报告

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测试时间:2012-03-22测试结果:失败测试元件型号:CY7C1021CV33Test SummaryDevice:CY7C1021CV33Package:44 pin SOIC wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:SUCCESSOperator:AdministratorReport Date:20 March 2012… [了解更多]

某研究中心测试案例-LM124J故障器件测试报告

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Test SummaryDevice:LM124JPackage:14 pin DIL narrowScan Profile:LowVAnalogueOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March 2012… [了解更多]

某研究中心测试案例-HM628512ALP-7故障器件测试报告

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Test SummaryDevice:HM628512ALP-7Package:32 pin DIL wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March 2012… [了解更多]

某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F1-OK2故障器件测试报告

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测试时间:2012-03-29 测试结果:失败测试元件型号:SPHE8202L-F1-OK2测试设备:英国ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202-F1-OK2Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:29 March 2012…… [了解更多]

某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F3-OK2故障器件测试报告

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测试时间:2012-03-29 测试结果:失败测试元件型号:SPHE8202L-F3-OK2测试设备:英国ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:29 March 2012… [了解更多]

某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F2-OK2故障器件测试报告

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测试时间:2012-03-29 测试结果:失败测试元件型号:SPHE8202L-F2-OK2测试设备:英国ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Result:SUSPECTOperator:AdministratorReport Date:29 March 2012… [了解更多]

某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件测试报告

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测试时间:2012-03-29 测试结果:失败测试元件型号:SPHE8202L-F5-OK2测试设备:英国ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:29 March 2012… [了解更多]


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