某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件测试报告

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测试时间:2012-03-29 测试结果:失败

测试元件型号:SPHE8202L-F5-OK2

测试设备:英国ABI-AT192


Test Summary



Device:SPHE8202
Package:QFP128
Scan Profile:Low V Digital
Overall Result:FAIL
Operator:Administrator
Report Date:29 March 2012



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