某厂计量处失效元件-CD54HC14F3A测试报告

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AT256 - Chip Report


Test Summary


Device:008
Package:14 pin DIL narrow
Scan Profile:Low V Digital
Overall Result:FAIL
Operator:Administrator
Report Date:18 October 2011


某厂计量处失效元件-CD54HC14F3A测试报告


某厂计量处失效元件-CD54HC14F3A测试报告


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