英国ABI电路板反求系统应用案例

英国ABI电路板反求系统应用案例

使用英国ABI的电路板反求系统RE1024对电路板进行原理图反求… [了解更多]

美国旧金山城市轨道交通销售案例

美国旧金山城市轨道交通销售案例

作为旧金山交通局电子维修中心持续现代化的一部分,该部门近期与英国ABI公司签订了多种维修设备的采购合同,主要用于列车电子部分的维修、维护以及电路板电路图的反求工作。 旧金山交通局下属旧金山城市铁路局负责管理和运营旧金山市和县公共轨道交通部分,它主要包括7条地上的轻轨线路及城市地下铁路(称为市政地铁),3条缆车线路和2条传统的有轨电车线路。在购买了260台新西门子S200 SF轻轨列车后,多年来开发的支持现有Breda LVR2 / 3系列的测试解决方案和模拟器将不再适用,旧金山交通局面临着重建电子维修中心的挑战,以便继续维修和维护新型列车中安装的现代电子轨道系统。 此外,由于缺乏新列车的基本维… [了解更多]

如何利用DT5000C测量继电器

如何利用DT5000C测量继电器

在量测 Relay 时,也就是一般俗称的继电器时,通常要将 RELAY 的规格了解清楚。在 RELAY 內部区分为二个部分: 一为驱动部分,就是线圈的部分,另一部分为接点部分,大部分为机械结构組成的。如何量测 RELAY 的驱动线圈? 在Diagnostic Test 5000C內部可输出驱动电流最大为 20mA,但目前量测的这一颗 RELAY 的驱动电流为 40mA,所以很明显的驱动电流不夠,所以,必须外加驱动电源才能夠量测这颗 RELAY。但在使用外加电源之前,必须先测试驱动线圈是否有问题。… [了解更多]

某厂计量处失效元件-CD54HC14F3A测试报告

某厂计量处失效元件-CD54HC14F3A测试报告

某厂计量处失效元件-CD54HC14F3A测试报告evice:008;Package:14 pin DIL narrow;Scan Profile:Low V Digital;Overall Result:FAIL;Operator:Administrator;Report Date:18 October 2011;… [了解更多]

英国ABI-AT256测试案例-ST16C554故障器件测试报告

英国ABI-AT256测试案例-ST16C554故障器件测试报告

测试时间:2011-06-30 测试结果:失败测试元件型号:16C554测试设备:英国ABI-AT25616c544故障器件测试结果图st16c544管脚图AT256 - Chip ReportTest SummaryDevice:16C554-123Package:68 pin PLCCScan Profile:CopyofNormalDigitalOverall Result:FAILOper…… [了解更多]

英国ABI-AT256测试案例-ST16C554良好器件测试报告

英国ABI-AT256测试案例-ST16C554良好器件测试报告

测试时间:2011-06-30 测试结果:通过测试元件型号:16C554测试设备:英国ABI-AT25616c544测试报告结果图片st16c544管脚图AT256 - Chip ReportTest SummaryDevice:16C554-123Package:68 pin PLCCScan Profile:CopyofNormalDigitalOverall Result:SUCCESSOp…… [了解更多]

某研究中心测试案例-CY7C1021CV33故障器件测试报告

某研究中心测试案例-CY7C1021CV33故障器件测试报告

测试时间:2012-03-22测试结果:失败测试元件型号:CY7C1021CV33Test SummaryDevice:CY7C1021CV33Package:44 pin SOIC wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:SUCCESSOperator:AdministratorReport Date:20 March 2012… [了解更多]

某研究中心测试案例-LM124J故障器件测试报告

某研究中心测试案例-LM124J故障器件测试报告

Test SummaryDevice:LM124JPackage:14 pin DIL narrowScan Profile:LowVAnalogueOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March 2012… [了解更多]

某研究中心测试案例-HM628512ALP-7故障器件测试报告

某研究中心测试案例-HM628512ALP-7故障器件测试报告

Test SummaryDevice:HM628512ALP-7Package:32 pin DIL wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March 2012… [了解更多]

某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F1-OK2故障器件测试报告

某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F1-OK2故障器件测试报告

测试时间:2012-03-29 测试结果:失败测试元件型号:SPHE8202L-F1-OK2测试设备:英国ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202-F1-OK2Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:29 March 2012…… [了解更多]

某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F3-OK2故障器件测试报告

某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F3-OK2故障器件测试报告

测试时间:2012-03-29 测试结果:失败测试元件型号:SPHE8202L-F3-OK2测试设备:英国ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:29 March 2012… [了解更多]

某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F2-OK2故障器件测试报告

某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F2-OK2故障器件测试报告

测试时间:2012-03-29 测试结果:失败测试元件型号:SPHE8202L-F2-OK2测试设备:英国ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Result:SUSPECTOperator:AdministratorReport Date:29 March 2012… [了解更多]


电路板故障检测仪(Board test)

专业销售英国ABI产品:电路板故障检测仪,电路板维修工作站;英国ABI-BM8500电路板维修工作站,英国ABI-BM8400电路板故障检测仪;英国ABI-3400三维立体V-I-F动态阻抗分析仪;英国ABI-2400电路板故障检测仪;英国ABI-DT5000C多功能电路板故障检测仪;英国ABI-1100可编程电源,英国ABI-BM8300多功能集成电路及电路板故障诊断等产品,提供产品简介和技术参数,欢迎来电咨询,咨询电话:010-82573333.

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